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膜厚測量儀材料研發與電子制造中的精密標尺
2025-08-25

在材料科學與電子設備制造領域,薄膜技術的突破正推動著產品性能的迭代升級。從柔性顯示屏的透明導電層到半導體芯片的納米級柵極氧化層,膜厚控制精度直接決定了材料的電學、光學及機械性能。膜厚測量儀作為關鍵質量檢測工具,憑借其非接觸、高精度、快速分析...

  • 2020-09-21

    HerzTS主動隔振臺介紹:在21世紀納米技術(即先進的半導體代表相關的信息技術,基因療法等生命科學相關技術,原子或分子處理如MEMS和工程技術等新材料生產),振動、噪聲、電磁領域、熱、濕度、干擾等是測量環境的抑制因素。在納米技術中,為了獲得可靠的結果,使用充氣被動隔振臺無法隔離低頻振動,此時需要主動隔離。主動式隔振系統“TS系列”將作為21世紀納米技術的隔振技術基礎。它將有助于發展目前的技術和測量、創新和發展未知的技術。HerzTS主動隔振臺特點:1、在全部的6個自由度范圍...

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